超低频率拉曼光谱揭示的 ReS2 原子层耦合与堆垛序
介观与纳米尺度物理
2016-02-16 v1
摘要
我们研究了原子级薄 ReS2（一种具有独特畸变 1T 结构的特殊二维半导体）的超低频率拉曼响应。双层和少层 ReS2 在低于 50 cm-1 的频率处展现出丰富的拉曼光谱，其中观察到一系列层间剪切与呼吸模。这些层间声子模的出现表明 ReS2 层是耦合且有序堆垛的，这与普遍认为 ReS2 层彼此解耦的观点相反。尽管层间呼吸模可像其他二维层状晶体一样用线性链模型描述，但由于面内晶格畸变，剪切模表现出独特行为。特别是，双层 ReS2 中的两个剪切模是非简并的且在拉曼光谱中分离良好，这与其他二维材料中的二重简并剪切模形成对比。通过进行全面的第一性原理计算，我们能够解释层间模的频率与拉曼强度，并确定双层 ReS2 中的堆垛序。
引用
@article{arxiv.1512.00092,
title = {Coupling and stacking order of ReS2 atomic layers revealed by ultralow-frequency Raman spectroscopy},
author = {Rui He and Jia-An Yan and Zongyon Yin and Zhipeng Ye and Gaihua Ye and Jason Cheng and Ju Li and C. H. Lui},
journal= {arXiv preprint arXiv:1512.00092},
year = {2016}
}