石墨烯上双探针扫描隧道显微镜装置的理论分析
介观与纳米尺度物理
2015-01-27 v2
摘要
实验进展使得纳入多个探针以测量样品表面的输运性质成为可能。我们利用格林函数形式体系发展了双探针扫描隧道显微镜理论，并将其应用于石墨烯。在有限长度尺度上采样局部导电性质可得到实空间电导图，其显示出本征石墨烯系统的各向异性以及存在孤立杂质时的量子干涉效应。实空间电导图傅里叶变换的谱特征包含了可与不同散射过程相关联的特性。我们计算了具有不同边缘几何形状或高度涨落的石墨烯系统的电导图，以确定非理想石墨烯样品对双探针测量的影响。
引用
@article{arxiv.1401.8156,
title = {Theoretical analysis of a dual-probe scanning tunneling microscope setup on graphene},
author = {Mikkel Settnes and Stephen R. Power and Dirch H. Petersen and Antti-Pekka Jauho},
journal= {arXiv preprint arXiv:1401.8156},
year = {2015}
}