具有双突出针尖的扫描隧道显微镜理论
凝聚态物理
2009-10-28 v1
摘要
我们考虑一种扫描隧道显微镜（STM），其中隧穿通过其针尖上的两个原子级尖锐突出部分发生。当两个突出部分相隔至少几个原子间距时，该STM的微分电导取决于样品中两个突出部分之间的电子输运。此外，双突出针尖在STM针尖制备过程中普遍存在。我们探索了其在探测金属表面动态杂质势和各向异性超导体中的局域输运方面的可能应用。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9509001,
title = {Theory of a Scanning Tunneling Microscope with a Two-Protrusion Tip},
author = {Michael E. Flatte' and Jeff M. Byers},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9509001},
year = {2009}
}
备注
revtex, 11 pages, 6 figures upon request