光谱显微术中用于降低剂量和加快测量的欠采样光栅扫描
医学物理
2023-10-17 v2 数值分析
数值分析
光学
摘要
光谱分析与显微技术的组合被用于包括材料科学、化学和生物学在内的许多科学研究学科。特别是 X 射线光谱显微术，是用于在微纳尺度研究化学态分布的强大工具。在光束固定的情况下，标本通常以连续运动穿过探针进行光栅扫描，并在固定时间间隔收集一系列多模态数据。该技术的应用在某些领域受限，原因在于：收集数据扫描时间长，或因研究面积/体积或因标本的成分特性；以及测量期间吸收剂量导致的材料退化。本工作中，我们提出一种通过欠采样光栅数据来降低剂量和扫描时间的新方法。这通过跳过扫描中的行并利用低秩矩阵补全重建 X 射线光谱显微测量来实现。新方法稳健，并允许采样减少 x 5-6 倍。给出了在真实数据上获得的实验结果。
引用
@article{arxiv.2208.09470,
title = {Undersampling Raster Scans in Spectromicroscopy for reduced dose and faster measurements},
author = {Oliver Townsend and Silvia Gazzola and Sergey Dolgov and Paul Quinn},
journal= {arXiv preprint arXiv:2208.09470},
year = {2023}
}
备注
22 pages,11 figures