X 射线显微光谱中材料化学态的鲁棒检索
计算机视觉与模式识别
2023-08-09 v1
摘要
X 射线显微光谱技术对于研究材料的形态与化学变化至关重要，可提供高分辨率的结构与光谱信息。然而，其用于可靠检索化学态的实际数据分析仍是阻碍许多研究领域加速理解材料基本特性的主要障碍。在本工作中，我们提出了一种用于 X 射线显微光谱的新颖数据建模公式，并开发了专用的解混框架以解决该问题，该框架对噪声与光谱变异性具有鲁棒性。此外，该框架不限于两类态材料化学的分析，使其成为传统且广泛使用的方法的有效替代方案。另外，应用了一种具有可证明收敛性的交替方向乘子法以高效获得解。我们的框架能够准确识别和表征复杂异质样品中的化学态，即使在低信噪比与光谱特征重叠等挑战性条件下也是如此。在模拟与真实数据集上的大量实验结果证明了其有效性与可靠性。
引用
@article{arxiv.2308.04207,
title = {Robust retrieval of material chemical states in X-ray microspectroscopy},
author = {Ting Wang and Xiaotong Wu and Jizhou Li and Chao Wang},
journal= {arXiv preprint arXiv:2308.04207},
year = {2023}
}
备注
12 pages