基于X射线鬼荧光的元素映射
光学
2021-02-16 v1 化学物理
医学物理
摘要
化学元素映射是一种提供复合材料关键信息的重要成像工具，对从基础科学到众多应用的广泛领域都至关重要。利用X射线荧光的方法非常有利且被广泛使用，但需要对输入光束聚焦并对样品进行光栅扫描。因此这些方法速度慢，且由于聚焦困难而分辨率有限。我们展示了一种基于鬼成像的新型无聚焦X射线荧光方法，克服了这些局限。我们将我们的方法与压缩感知相结合，使测量时间和辐射暴露减少80%以上。由于我们的方法无需聚焦，它为利用台式X射线源改善化学元素映射的分辨率和图像质量，以及将X射线荧光检测的应用扩展到医学成像和国土安全应用等新领域开辟了可能。
引用
@article{arxiv.2102.07755,
title = {Chemical element mapping by x-ray ghost fluorescence},
author = {Y. Klein and O. Sefi and H. Schwartz and S. Shwartz},
journal= {arXiv preprint arXiv:2102.07755},
year = {2021}
}