X 射线荧光切片
医学物理
2012-10-29 v1 光学
摘要
在本文中，我们提出一种用于元素分析的 X 射线荧光成像系统。核心思想是我们所谓的“X 射线荧光切片”。具体而言，X 射线管前方的狭缝准直器将 X 射线整形为扇形束，以照亮物体的一个平面切片。然后，扇形束平面上的相关元素(如金纳米颗粒)被激发以产生 X 射线荧光信号。一个或多个 2D 光谱探测器被放置为面向扇形束平面，并直接测量 X 射线荧光数据。探测器单元被准直，使得每个单元仅看到扇形束平面上的一个唯一面积单元，并相应地记录 X 射线荧光信号。测得的 2D X 射线荧光数据可以参考物体的衰减特性和光束的发散性进行校正，以实现准确的元素映射。该 X 射线荧光切片系统有望实现快速荧光层析成像，而无需复杂的逆过程。该设计可以通过多种方式进行改造，例如使用更大的探测器尺寸以提高信噪比。在这种情况下，可以多次移动探测器以进行图像去模糊。
引用
@article{arxiv.1210.7198,
title = {X-ray Fluorescence Sectioning},
author = {Wenxiang Cong and Ge Wang},
journal= {arXiv preprint arXiv:1210.7198},
year = {2012}
}