微米厚磁体的软X射线相位纳米显微术
介观与纳米尺度物理
2025-01-16 v1
摘要
在扩展材料体系内对纳米尺度磁纹理进行成像，对基础研究和技术应用都至关重要。虽然利用电子和软X射线显微镜对薄纳米样品的高分辨率磁成像已十分成熟，但利用硬X射线对微米厚体系的扩展目前将高分辨率成像局限于稀土磁体。本文通过利用边前相位X射线磁圆二色性信号建立微米厚体系的软X射线磁成像，克服了这一限制，从而使得研究范围广泛的磁性材料成为可能。通过进行二色性谱ptychography，我们展示了厚度达1.7 {\mu}m的磁样品的高空间分辨率成像，比基于吸收的技术常规所能实现的厚度高一个数量级。这一磁成像的新体制使得研究此前无法触及的扩展非稀土体系成为可能，从面向未来自旋电子学应用的磁纹理到非稀土永磁体。
引用
@article{arxiv.2309.14969,
title = {Soft X-ray phase nano-microscopy of micrometre-thick magnets},
author = {Jeffrey Neethi Neethirajan and Benedikt Daurer and Marisel Di Pietro Martínez and Aleš Hrabec and Luke Turnbull and Majid Kazemian and Burkhard Kaulich and Claire Donnelly},
journal= {arXiv preprint arXiv:2309.14969},
year = {2025}
}