具有 5 nm 分辨率的全相干 X 射线磁成像
材料科学
2023-09-19 v1
摘要
软 X 射线显微镜在现代自旋电子学中发挥着重要作用。然而，大多数 X 射线磁成像实验所能达到的分辨率高于 10 nm，限制了对基础及技术相关长度尺度的观测。在此，我们通过将全息辅助相干衍射成像与弱磁信号的外差放大相结合，展示了分辨率为 5 nm 的 X 射线磁显微术。分辨率和对比度的提升使得直接获取关键磁学性质成为可能，包括畴壁轮廓与钉扎位点位置。利用光子探测并绘制此类性质的能力，为磁性材料及其他领域中的元素特异性、时间分辨及原位研究开辟了新视野。
引用
@article{arxiv.2309.09964,
title = {Coherent x-ray magnetic imaging with 5 nm resolution},
author = {Riccardo Battistelli and Daniel Metternich and Michael Schneider and Lisa-Marie Kern and Kai Litzius and Josefin Fuchs and Christopher Klose and Kathinka Gerlinger and Kai Bagschik and Christian M. Günther and Dieter Engel and Claus Ropers and Stefan Eisebitt and Bastian Pfau and Felix Büttner and Sergey Zayko},
journal= {arXiv preprint arXiv:2309.09964},
year = {2023}
}
备注
12 pages, 12 figures