高分辨率从头三维X射线衍射显微术
光学
2007-11-13 v1
摘要
相干X射线衍射显微术是一种对非周期性孤立物体成像的方法，其分辨率原则上仅受记录到的最大散射角限制。我们展示了在全部三个维度上具有高分辨率的X射线衍射成像，这由对重建体图像的定量分析所确定。这些图像从三维衍射数据复原而得，且无须关于物体形状或成分的先验知识，此前从未在非周期性物体上演示过。我们还构建了具有无限景深（不损失横向空间分辨率）的厚物体二维图像。这些方法可用于利用X射线波荡器辐射对生物与材料科学样品进行高分辨率成像，并为将在X射线自由电子激光源上实现的原子分辨率超快成像确立了技术。
引用
@article{arxiv.physics/0509066,
title = {High-resolution ab initio three-dimensional X-ray diffraction microscopy},
author = {H. N. Chapman and A. Barty and S. Marchesini and A. Noy and C. Cui and M. R. Howells and R. Rosen and H. He and J. C. H. Spence and U. Weierstall and T. Beetz and C. Jacobsen and D. Shapiro},
journal= {arXiv preprint arXiv:physics/0509066},
year = {2007}
}
备注
22 pages, 11 figures, submitted