用于原位应变与倾斜映射的变波长快速扫描纳米聚焦X射线显微术
材料科学
2022-06-28 v1 经典物理
摘要
通过结合三维倒易空间映射的快速纳米聚焦 X 射线扫描显微技术，对微柱的压缩过程进行原位观测。与其他使用双 X 射线纳米束的尝试相比，它避免了任何会导致样品破坏的运动或振动。该技术包括扫描入射纳米聚焦 X 射线束的能量以及聚焦光学器件沿 X 射线束方向的面内平移。在此，我们通过对原位压缩过程中 Si 微柱及其基座的应变与晶格取向成像来演示该方法。改变入射束能量而非摆动样品，以及映射聚焦光学器件而非移动样品，可在不卸除机械载荷的情况下提供无振动的倒易空间映射测量。应变与晶格取向映射结果与普通摇摆曲线扫描记录的结果吻合良好。变波长快速扫描 X 射线显微术为面向更多样和复杂材料环境的原位应变与倾斜映射开辟了途径，尤其在样品操控困难的情况下。
引用
@article{arxiv.2206.13297,
title = {Variable-wavelength quick scanning nano-focused X-ray microscopy for in situ strain and tilt mapping},
author = {Marie-ingrid Richard and Thomas W Cornelius and Florian Lauraux and Jean-Baptiste Molin and Christoph Kirchlechner and Steven J Leake and Jérôme Carnis and Tobias U Schülli and Ludovic Thilly and Olivier Thomas},
journal= {arXiv preprint arXiv:2206.13297},
year = {2022}
}