纳米晶晶格间距的把握
材料科学
2015-06-24 v2 原子与分子团簇
仪器与探测器
摘要
薄晶体晶格间距的取向依赖性可通过 fringe-visibility 图谱（Kikuchi 图的直接空间类比）进行优雅地定量化。正如利用 Kikuchi 线在剩余空间中导航一样，fringe-visibility 图谱有助于在晶格图像中获取三维晶体学信息。特别是，这些图谱可帮助研究者确定单个纳米晶的三维晶格参数，针对随机取向的粒子集合进行“fringe指纹”识别，并仅通过适度的倾斜角度即可测量样品的局部厚度。由于图像中晶格间距的数量随最大空间频率的平方而增长，随着 aberration 矫正技术将分辨率推入亚埃弧范围，这些策略（配合更精确的测距仪器）将变得更加有用。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0212281,
title = {Making sense of nanocrystal lattice fringes},
author = {P. Fraundorf and W. Qin and Peter Moeck and Eric Mandell},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0212281},
year = {2015}
}
备注
12 pages, 15 figures, 2 tables, 60 refs, RevTex4, notes http://www.umsl.edu/~fraundor/help/imagnxtl.htm