利用人工背景的传输特征值显式识别材料折射率
偏微分方程分析
2017-11-09 v1
摘要
我们关注从与入射平面波相关的远场数据中提取嵌入参考介质中的可穿透包含折射率 的信息的问题。我们的方法依赖于使用传输特征值（TEs），其携带关于 的信息，并可由远场算子 的知识确定。在本注记中，我们解释如何将 修正为远场算子 ，其中 由数值计算获得，对应于精心选择的人工背景，且其关联的 TEs 提供关于 更易获取的信息。
引用
@article{arxiv.1711.03012,
title = {Transmission eigenvalues with artificial background for explicit material index identification},
author = {Lorenzo Audibert and Lucas Chesnel and Houssem Haddar},
journal= {arXiv preprint arXiv:1711.03012},
year = {2017}
}