薄膜铝结构作为热电子微波辐射探测器
超导电性
2007-05-23 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
我们发现，由微米尺寸岛屿通过窄峡连接组成的薄膜铝结构，在微波辐射作用下可改变其电气和结构性质。结果表明，在 4.2 K 时，这些薄膜结构形成类似横向周期结构 N-S-N，其中 N 为正常岛屿，S 为超导峡。本文研究了样品的电流-电压特性以及在低功率辐射下这些特性的变化，温度范围为 1.3 到 10 K。作为微波探测器的结构灵敏度可达 V/W。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0407636,
title = {Thin-Film Aluminum Microstructure as a Hot-Electron Microwave Radiation Detector},
author = {I. Yu. Borisenko and V. I. Kuznetsov and V. A. Tulin and D. Esteve},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0407636},
year = {2007}
}
备注
4 pages, 4 figures, RevTex4