金属和绝缘薄膜在低温下的类自旋磁化率
介观与纳米尺度物理
2009-07-28 v2
摘要
我们使用扫描 SQUID 显微镜对图案化薄膜进行了亚开尔文温度下的磁化率测量，该显微镜可以分辨对应于几百个玻尔磁子的信号。几种金属和绝缘薄膜，甚至无氧化物的金膜，都显示出顺磁响应，其温度依赖性表明未配对的自旋是起源。观察到的响应表现出可测量的异相分量，这意味着这些自旋会产生类似 1/f 的磁噪声。测量的自旋密度与最近用自旋涨落解释 SQUID 和超导量子比特中低频磁通噪声的结论一致，并表明这种意想不到的自旋可能比早期测量所指示的更为普遍。我们的测量为这些自旋的性质设定了若干约束条件。
引用
@article{arxiv.0903.3748,
title = {Spin-like susceptibility of metallic and insulating thin films at low temperature},
author = {Hendrik Bluhm and Julie A. Bert and Nicholas C. Koshnick and Martin E. Huber and Kathryn A. Moler},
journal= {arXiv preprint arXiv:0903.3748},
year = {2009}
}
备注
Journal version. 4 pages, 2 figures. See http://www.stanford.edu/group/moler/publications.html for the auxiliary document containing additional data and discussion (Ref. 15). Changes w.r.t. v1: Clarified some details, moved some technical points to auxiliary document