超导 Sr$_2$RuO$_4$ 薄膜与环的局域磁响应
超导电性
2024-03-27 v1
摘要
我们利用扫描超导量子干涉器件（SQUID）磁化率测量技术，对 SrRuO 超导薄膜样品进行了局域磁性测量。从抗磁响应中，我们提取了磁穿透深度 ，该深度在低温下呈现出二次方温度依赖关系。尽管高纯度块材样品中的二次方依赖关系被归因于非局域电动力学，但我们的分析表明，在我们的薄膜样品中，散射的存在是导致该二次方依赖关系的根源。虽然我们观察到抗磁响应和超导转变温度存在微米尺度的变化，但 温度依赖关系的形式与位置无关。最后，我们表征了由薄膜光刻制备的超导环中的磁通捕获现象，为基于器件的系统性测试 SrRuO 超导序参量铺平了道路。
引用
@article{arxiv.2403.17152,
title = {Local magnetic response of superconducting Sr$\mathrm{_2}$RuO$\mathrm{_4}$ thin films and rings},
author = {G. M. Ferguson and Hari P. Nair and Nathaniel J. Schreiber and Ludi Miao and Kyle M. Shen and Darrell G. Schlom and Katja C. Nowack},
journal= {arXiv preprint arXiv:2403.17152},
year = {2024}
}