顺磁超导体的扫描SQUID磁化率测量
超导电性
2015-06-04 v1
摘要
扫描SQUID磁化率测量可对样品的局部磁化强度和磁化率进行成像。通过精确建模SQUID信号，我们可以确定超导样品的物理性质，如穿透深度和磁导率。我们计算了位于非超导衬底上、具有各向同性伦敦穿透深度且厚度任意的超导薄板的扫描SQUID磁化率信号，其中薄板和衬底均可具有与外加磁场成线性关系的顺磁响应。我们在多种极限情况下推导了通用表达式的解析近似。利用我们的结果，我们拟合了三个样品在不同样品-传感器间距下的实验磁化率数据：1）delta掺杂的SrTiO3，主要表现为抗磁响应；2）LaNiO3薄膜，主要表现为顺磁响应；3）SrTiO3/AlAlO3界面处的二维电子层（2-DEL），表现出两种类型的响应。这些公式将允许通过拟合扫描SQUID磁化率测量结果来确定顺磁自旋和超导载流子的浓度。
引用
@article{arxiv.1204.3355,
title = {Scanning SQUID Susceptometry of a paramagnetic superconductor},
author = {J. R. Kirtley and B. Kalisky and J. A. Bert and C. Bell and Y. Hikita and H. Y. Hwang and J. H. Ngai and Y. Segal and F. J. Walker and C. H. Ahn and K. A. Moler},
journal= {arXiv preprint arXiv:1204.3355},
year = {2015}
}
备注
11 pages, 13 figures