极过掺杂 $La_{2-x}Sr_{x}CuO_{4}$ 的扫描 SQUID 表征
超导电性
2021-01-29 v1
摘要
近来，薄膜合成方法的进展使得对极过掺杂 的研究成为可能。这揭示了超流密度随掺杂与温度变化的令人惊讶的行为，其解释正被热烈讨论。一类流行的模型假定电子相分离，其中超导相分数随掺杂减少，而某种竞争相（如铁磁相）逐渐占据主导。该情景的一个问题是，根据互感测量，一直到穹顶边缘超导转变都保持尖锐。然而，物理上相关的尺度是 Pearl 穿透深度 ，而该技术在远大于 的长度尺度 上探测样品。在本文中，我们使用局域扫描 SQUID 测量，在尺度 上探测样品的磁化率。我们的 SQUID 图显示了均匀的磁化率分布，且局域穿透深度数据与体测量总体高度一致。这些结果为高温超导如何在铜氧化物相图的过掺杂侧消失这一谜题贡献了重要一环。
引用
@article{arxiv.2101.04259,
title = {Scanning SQUID characterization of extremely overdoped $La_{2-x}Sr_{x}CuO_{4}$},
author = {Chloe Herrera and Jacob Franklin and Ivan Božović and Xi He and Ilya Sochnikov},
journal= {arXiv preprint arXiv:2101.04259},
year = {2021}
}
备注
This work was accepted to Physical Review B