三维强拓扑绝缘体表面准粒子干涉的稳相法研究
介观与纳米尺度物理
2011-09-01 v1
摘要
拓扑绝缘体表面能带的等能轮廓（CEC）不仅随材料变化，也在不同能量下变化。由拓扑绝缘体表面缺陷散射引起的准粒子干涉是揭示 CEC 拓扑结构的有效方法，并可通过扫描隧道显微镜（STM）探测。利用稳相法，我们仅基于时间反演对称性和 CEC 上散射端点周围的局域几何，给出了局域态密度以及 Friedel 振荡幂律的一般解析公式。特别地，我们预言了表面态对磁性杂质与非磁性杂质的截然不同的响应，并提议在拓扑绝缘体表面的闭合“磁墙”装置中对此进行测量。
引用
@article{arxiv.1108.6051,
title = {Stationary phase approach to the quasiparticle interference on the surface of three dimensional strong topological insulators},
author = {Qin Liu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1108.6051},
year = {2011}
}
备注
5 figures, 4 tables