稳相近似方法研究强拓扑绝缘体表面的准粒子干涉
介观与纳米尺度物理
2012-04-03 v1
摘要
拓扑绝缘体具有具有独特自旋 - 轨道耦合的表面态。表面存在杂质时，准粒子干涉图样是揭示表面态拓扑性质的有效手段，可通过扫描隧道显微镜进行探测。本文利用稳相近似提出了局域态密度的一般解析表达式。讨论了具有任意形状等能线的 Friedel 振荡的幂律行为。特别是，我们预测了对于被困在“磁壁”中的表面态，磁性杂质与非磁性杂质相比具有独特的特征信号。
引用
@article{arxiv.1202.1611,
title = {Stationary phase approximation approach to the quasiparticle interference on the surface of a strong topological insulator},
author = {Qin Liu and Xiao-Liang Qi and Shou-Cheng Zhang},
journal= {arXiv preprint arXiv:1202.1611},
year = {2012}
}
备注
9 pages, 5 figures, 4 tables