拓扑绝缘体薄膜表面杂质散射研究
介观与纳米尺度物理
2017-07-14 v1 材料科学
摘要
我们研究了嵌入局域非磁性和磁性杂质的拓扑绝缘体薄膜表面态的电子结构。利用实空间格林函数的T矩阵展开，我们推导了局域电子态密度及相应的自旋分辨密度。研究表明，通过在表面层之间施加电场可以调控杂质效应。所涌现的磁态预计在磁性拓扑绝缘体的铁磁机制及其输运性质中均扮演重要角色。对于磁性杂质情形，我们根据杂质的不同自旋方向以及计算自旋分辨电子态密度时所取的自旋方向进行了分类，并将其与系统的自旋磁化率联系起来。
引用
@article{arxiv.1702.06424,
title = {Impurity scattering on the surface of topological insulator thin films},
author = {Mahroo Shiranzaei and Fariborz Parhizgar and Jonas Fransson and Hosein Cheraghchi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1702.06424},
year = {2017}
}