SmB$_6$表面态的磁性与缺陷探针
强关联电子
2018-11-19 v1
摘要
非磁性与磁性杂质对拓扑绝缘体的影响是一个核心问题，涉及其基础物理以及可能的新型自旋电子学和量子计算应用。SmB被预测为拓扑Kondo绝缘体，被视为基准材料。在扫描隧穿谱中使用自旋极化针尖破坏了拓扑表面态的特征峰，揭示了其自旋纹理。进一步，通过在含不同替代原子的SmB上结合局域STS与宏观输运测量，我们得以研究杂质效应。表面态在杂质周围的局域抑制具有不同的长度尺度，取决于其磁性性质，并且在足够高的杂质浓度下被全局破坏。我们的研究直接指向SmB的拓扑本质，并从微观和宏观上揭示了杂质——无论磁性或非磁性——如何影响拓扑表面态。
引用
@article{arxiv.1811.01642,
title = {Magnetic and defect probes of the SmB$_6$ surface state},
author = {Lin Jiao and Sahana Rößler and Deepa Kasinathan and Priscila F. S. Rosa and Chunyu Guo and Huiqiu Yuan and Chao-Xing Liu and Zachary Fisk and Frank Steglich and Steffen Wirth},
journal= {arXiv preprint arXiv:1811.01642},
year = {2018}
}