强拓扑绝缘体表面准粒子干涉理论
介观与纳米尺度物理
2015-05-14 v2 强关联电子
摘要
强拓扑绝缘体(如 Bi2Te3 或 Bi1-xSnx)表面的电子形成一种拓扑保护的螺旋液体，其激发谱包含奇数个无质量狄拉克费米子。本文对这种螺旋液体中由磁性及非磁性杂质引起的准粒子散射所产生的干涉图样中，可通过普通和自旋极化扫描隧道谱观测到的普适特征进行了理论综述和分类。我们的结果证实了近期实验中观察到的非磁性杂质背散射缺失现象，并预测了当散射体为磁性时，螺旋液体所特有的新干涉特征。
引用
@article{arxiv.0910.4946,
title = {Theory of quasiparticle interference on the surface of a strong topological insulator},
author = {H. -M. Guo and M. Franz},
journal= {arXiv preprint arXiv:0910.4946},
year = {2015}
}
备注
4 pages, 2 figures, 1 table. Version to appear in PRB/RC; Typos corrected