近厚度极限下三维拓扑绝缘体中的准粒子散射
介观与纳米尺度物理
2024-05-02 v1 材料科学
摘要
在超薄区域，Bi2Te3 薄膜具有两个表面（每个表面为一个二维 Dirac 费米子系统），带有复杂的自旋纹理以及它们之间的隧穿项。我们发现在该区域中，准粒子散射与厚膜情况完全不同，甚至在不同厚度下的表现也不同。依赖于厚度的翘曲效应和隧穿项被发现是主导散射行为的两个主要因素。通过台阶边缘反射方法，发现标志隧穿项存在的带间背散射在 4 个五重层时消失。我们提出了一个四能带模型，该模型捕捉了依赖于厚度的散射行为的主要特征。我们的工作阐明了，拓扑绝缘体中由对称性保证的背散射禁止在超薄区域中会失效。
引用
@article{arxiv.2401.11157,
title = {Quasiparticle scattering in three-dimensional topological insulators near the thickness limit},
author = {Haiming Huang and Mu Chen and Dezhi Song and Jun Zhang and Ye-ping Jiang},
journal= {arXiv preprint arXiv:2401.11157},
year = {2024}
}
备注
31 pages, 13 figures including the supplementary materials