非磁性杂质共振重塑拓扑绝缘体狄拉克锥的观测
材料科学
2018-05-02 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
在拓扑绝缘体表面发现的无质量狄拉克电子被认为受弱非磁性无序的影响极小。然而，理论预言强扰动非磁性杂质的共振效应会改变低能准粒子的色散和物理本质，产生缺乏微观平移对称性的独特类粒子态。本文报道了在模型三维拓扑绝缘体 Bi2Se3 中杂质重塑表面狄拉克锥的直接观测。首次在富无序样品中观察到明显的扭结状色散特征，并发现其与二色角分辨光电子能谱（ARPES）观测到的表面态态密度中杂质共振引起的反常密切相关。这些特征与理论预言高度吻合的实验观测，对于在表面或界面通常存在点缺陷无序的实际应用场景中拓扑狄拉克锥的性质具有重要意义。
引用
@article{arxiv.1805.00084,
title = {Observation of a Topological Insulator Dirac Cone Reshaped by Non-magnetic Impurity Resonance},
author = {Lin Miao and Yishuai Xu and Wenhan Zhang and Daniel Older and S. Alexander Breitweiser and Erica Kotta and Haowei He and Takehito Suzuki and Jonathan D. Denlinger and Rudro R. Biswas and Joseph Checkelsky and Weida Wu and L. Andrew Wray},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.00084},
year = {2018}
}
备注
Includes main text (4 figures), Methods, and Supplementary Material