基于拓扑导数的小电磁夹杂物定位的稳定性与分辨率分析
最优化与控制
2015-04-10 v2
摘要
本文旨在详细阐述并严格分析一种基于拓扑导数的成像框架，该框架用于从固定频率下散射磁场切向分量的边界测量中定位尺寸递减的电磁夹杂物。夹杂物检测的逆问题被表述为一个基于滤波失配泛函的优化问题，并由此得到基于拓扑导数的成像泛函。对成像泛函的灵敏度和分辨率分析进行了严格推导。证实了瑞利分辨率极限得以实现。此外，研究了重构相对于测量和介质噪声的稳定性，并根据自由空间基本磁解的虚部评估了信噪比。
引用
@article{arxiv.1412.6667,
title = {Stability and Resolution Analysis of Topological Derivative Based Localization of Small Electromagnetic Inclusions},
author = {Abdul Wahab},
journal= {arXiv preprint arXiv:1412.6667},
year = {2015}
}
备注
30 pages