电阻抗断层成像中的随机包含体检测
偏微分方程分析
2018-10-11 v1
摘要
本工作考虑具有随机电导率的电阻抗断层成像的包含体检测问题。结果表明，只要异常体在期望意义下具有足够高的对比度，通过将 Factorization Method 或 Monotonicity Method 应用于相应 Neumann-to-Dirichlet 映射的均值，即可识别具有随机电导率的电导率异常体。理论结果由二维空间中的数值例子加以补充。
引用
@article{arxiv.1706.03962,
title = {Detecting stochastic inclusions in electrical impedance tomography},
author = {Andrea Barth and Bastian Harrach and Nuutti Hyvönen and Lauri Mustonen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1706.03962},
year = {2018}
}
备注
16 pages, 5 figures