多频电阻抗断层成像中异常体的数值确定
数值分析
2017-04-18 v1
摘要
多频电阻抗断层成像通过注入有限个多频率电流来反演样本的电导率分布。本文考虑电导率分布为分段常数、在单一光滑异常体外部取常数值、而在异常体内部为频率依赖函数的情况。利用基于庞加莱变分特征元的正演电导率问题解的原始谱分解，我们反演了对应于理想导体极端情形的柯西数据以及电导率剖面。随后从柯西数据重建异常体。数值实验采用梯度下降优化算法进行。
引用
@article{arxiv.1704.04878,
title = {Numerical determination of anomalies in multifrequency electrical impedance tomography},
author = {Habib Ammari and Faouzi Triki and Chun-Hsiang Tsou},
journal= {arXiv preprint arXiv:1704.04878},
year = {2017}
}