电阻抗层析成像中外边界形状与导纳分布的同时重建

电阻抗层析成像的目标是从边界电流和电压测量重建物体内部的导纳分布。由于底层逆问题的严重不适定性，阻抗层析成像的功能严重依赖于测量几何的精确建模。特别是，几乎所有重建算法都需要成像物体的精确形状作为输入。本文通过引入一种牛顿型输出最小二乘算法，同时重建导纳分布和物体形状，从而放松了对先验几何信息的需求。该方法建立在完整电极模型的框架内，并基于相应的电流-电压映射关于物体边界形状的Fréchet导数。通过模拟测量数据的数值实验展示了该技术的功能。