电阻抗断层成像中用于处理不精确已知测量配置的多项式配点法
数值分析
2016-07-04 v2
摘要
电阻抗断层成像的目标是基于附着在物体边界的有限数量电极上的电流和电势测量来重建物理物体的内部电导率。尽管电导率是阻抗断层成像中的主要关注量,真实世界的测量配置还包含其他未知参数:关于接触电阻、电极位置和物体形状的信息几乎总是不完整的。在这项工作中,电极测量对所有上述模型属性的依赖性通过多项式配点法进行参数化。这种参数化的可用性使得能够通过 Newton 型输出最小二乘算法高效同步重建电导率和其他未知量,这通过基于含噪模拟数据和水箱实验数据得到的二维数值实验加以证明。
引用
@article{arxiv.1604.00353,
title = {Polynomial collocation for handling an inaccurately known measurement configuration in electrical impedance tomography},
author = {Nuutti Hyvönen and Vesa Kaarnioja and Lauri Mustonen and Stratos Staboulis},
journal= {arXiv preprint arXiv:1604.00353},
year = {2016}
}
备注
21 pages, 7 figures