微观导体的散粒噪声
介观与纳米尺度物理
2016-08-31 v2 统计力学
强关联电子
超导电性
摘要
关于动力学涨落的理论与实验工作已发展为微观物理学的一个非常活跃且引人入胜的子领域。我们综述了这一发展，重点关注小型电导体的散粒噪声。散粒噪声源于电荷的量子化。它可用于获取通过电导测量无法获得的系统信息。特别是，散粒噪声实验可确定与传输相关的准粒子电荷及其统计性质，并揭示关于微观系统势格面和内部能尺度的信息。散粒噪声通常比平均电导更敏感于电子-电子相互作用的影响。我们基于概念上透明的散射方法、古典 Langevin 方法及 Boltzmann-Langevin 方法进行讨论；此外，还提供无法通过这些方法获得结果的讨论。我们通过指出若干未解决问题并展望该领域未来发展的可能方向来总结本综述。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9910158,
title = {Shot Noise in Mesoscopic Conductors},
author = {Ya. M. Blanter and M. Buttiker},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9910158},
year = {2016}
}
备注
99 two-column pages; 38 .eps figures included. Submitted to Physics Reports. Many minor improvements; typos corrected; references added and updated