单原子结的散粒噪声测量
介观与纳米尺度物理
2022-04-06 v1
摘要
与通过小收缩处电荷离散性相关的电流涨落称为散粒噪声。这种不可避免的噪声兼具优势——作为透射粒子电荷的直接测量手段，与劣势——低温下纳米器件中的主要噪声源。尽管人们期望更好理解散粒噪声，其测量技术困难导致实验工作相对较少，尤其在单原子结构中。本文描述一种局域散粒噪声测量装置，并展示通过单原子结的成功噪声测量。我们的装置基于扫描隧道显微镜，在液氦温度下工作，包含安装于隧穿结近旁的商用宽带放大器，从而降低了限制传统噪声测量的热噪声与输入电容。改进系统保持了显微镜的全部功能，并可快速切换不同测量模式。
引用
@article{arxiv.2111.08976,
title = {Shot-noise measurements of single-atom junctions},
author = {Idan Tamir and Verena Caspari and Daniela Rolf and Christian Lotze and Katharina J. Franke},
journal= {arXiv preprint arXiv:2111.08976},
year = {2022}
}