室温下扫描隧道显微镜式断裂结中的过剩噪声
介观与纳米尺度物理
2014-06-11 v1
摘要
纳米系统中的电流噪声提供了超越电子电导的额外信息。我们报告了在室温下对原子尺度金结集合（在针尖和薄膜之间反复形成和断裂）中非平衡“过剩”噪声的测量，作为偏置条件的函数。我们观察到在电导量子化相关的电导值附近噪声受到抑制，这与少量子通道极限下散粒噪声的有限温度理论预期一致。在较高电导的结中，噪声的Fano因子接近低电导隧穿极限中观察到的值的1/3，这与向扩散区趋近的理论预期一致。在散粒噪声相对受到抑制的电导值处，存在一个与偏置平方成比例的残余噪声贡献，这很可能源于闪烁噪声/电导涨落机制。
引用
@article{arxiv.1206.4338,
title = {Excess noise in scanning tunneling microscope-style break junctions at room temperature},
author = {Ruoyu Chen and Patrick Wheeler and D. Natelson},
journal= {arXiv preprint arXiv:1206.4338},
year = {2014}
}
备注
17 pages, 7 figures. Accepted to PRB