MHz频段下原子尺寸结上的快速精确散粒噪声测量
介观与纳米尺度物理
2017-12-11 v1
摘要
原子和分子结上的散粒噪声测量提供了关于结的量子输运性质以及过程中发生的非弹性散射事件的丰富信息。纳米尺度的耗散——纳米电子学中核心关注的问题——可以以最明确和简化的形式被研究。在此，我们描述一种测量技术，允许将先前的噪声测量扩展到高得多的频率范围，以及高得多的偏置电压范围，同时在噪声和电导上保持高精度。我们还展示了获取频谱信息用于诊断的优势。
引用
@article{arxiv.1706.02628,
title = {Fast and accurate shot noise measurements on atomic-size junctions in the MHz regime},
author = {Sumit Tewari and Carlos Sabater and Manohar Kumar and Stefan Stahl and Bert Crama and Jan M. van Ruitenbeek},
journal= {arXiv preprint arXiv:1706.02628},
year = {2017}
}
备注
8 figures