用 SIS 检测器探测介观器件的量子噪声
无序系统与神经网络
2007-05-23 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
量子力学可以显著影响介观器件的噪声特性。为探测此效应，我们使用在高频（5-90 GHz）下测量电流涨落的 superconductor-insulator-superconductor 隧结结作为 on-chip 频谱分析器。通过将此频率分辨噪声检测器耦合至量子器件，我们演示了测量高频非对称噪声，已用于 Josephson 结。该方案同样用于检测来自两能级系统——超导电荷量子比特中一致电荷振荡引起的电流涨落。在谱噪声密度中观察到位于一致电荷振荡频率处的窄带峰。
关键词
引用
@article{arxiv.cond-mat/0405601,
title = {Detection of quantum noise from mesoscopic devices with an SIS detector},
author = {R. Deblock and E. Onac and L. Gurevich and L. P. Kouwenhoven},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0405601},
year = {2007}
}
备注
4 pages, 2 figures, to appear in the proceedings of the XXXIXth Rencontres de Moriond (La Thuile, 2004) "Quantum information and decoherence in nanosystems"