利用片上谐振电路进行高频量子导纳与噪声测量
介观与纳米尺度物理
2012-03-02 v2
摘要
通过将一个量子探测器——超导体-绝缘体-超导体结——经由谐振电路耦合到约瑟夫森结上,我们在谐振频率处探测了约瑟夫森结的高频特性,即交流复导纳和电流涨落。导纳分量表现出与超导态密度相关的频率依赖奇异性,而噪声则呈现出强烈的频率依赖性,这与理论预言一致。该电路还允许我们在处于平衡态的超导谐振电路的量子区中分别探测发射噪声和吸收噪声。在低温下,谐振电路仅表现出与零点涨落相关的吸收噪声;而在较高温度下,发射噪声也会出现。
引用
@article{arxiv.1110.5834,
title = {High Frequency Quantum Admittance and Noise Measurement with an On-chip Resonant Circuit},
author = {Julien Basset and Hélène Bouchiat and Richard Deblock},
journal= {arXiv preprint arXiv:1110.5834},
year = {2012}
}
备注
15 pages, 15 figures