用片上谐振器在微波频率下探测量子点导纳
介观与纳米尺度物理
2012-10-04 v2
摘要
我们展示了与二维电子气隧穿耦合的量子点动态导纳的微波频率测量。测量通过一个高质量因数6.75 GHz的片上谐振器进行，该谐振器与量子点电容耦合。发现谐振器频率在量子点电导共振附近既向下也向上偏移，对应于系统电抗从容性到感性的符号变化。这些观测结果与散射矩阵模型一致。电抗的符号取决于量子点与电导共振的失谐以及相对于谐振器频率的隧穿率大小。当隧穿耦合和温度相对于谐振器频率足够小时，在电导共振上观察到感性响应。
引用
@article{arxiv.1207.0945,
title = {Quantum dot admittance probed at microwave frequencies with an on-chip resonator},
author = {T. Frey and P. J. Leek and M. Beck and J. Faist and A. Wallraff and K. Ensslin and T. Ihn and M. Büttiker},
journal= {arXiv preprint arXiv:1207.0945},
year = {2012}
}
备注
8 pages, 4 figures