介尺度阈值探测器：测量涨落的尺寸
介观与纳米尺度物理
2007-05-23 v2 统计力学
摘要
我们提出了一种基于芯片探测器电压-电流特性不稳定性的两种端子方法，用于测量介尺度系统中的散粒噪声。微观噪声驱动这种不稳定性，导致电流在两个数值之间随机切换，即电报过程。在高斯 regime 中，可从电压-电流曲线中提取驱动不稳定性的散粒功率，噪声功率作为拟合参数。 在阈值 regime 中，可从切换速率中提取介尺度导体的极值统计信息，这以一种间接方式重新组织了关于电流统计信息的全部信息，“电报”涨落的尺寸。我们提出使用量子双点结构作为介尺度阈值探测器。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0503751,
title = {Mesoscopic threshold detectors: Telegraphing the size of a fluctuation},
author = {Andrew N. Jordan and Eugene V. Sukhorukov},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0503751},
year = {2007}
}
备注
9 pages, 7 figures, published version