悬浮光刻金断裂结中散粒噪声随偏压与温度的演化

散粒噪声是探测关联和微观输运细节的有力工具，这些细节仅凭电导测量无法揭示。即使在由 Landauer-Büttiker 物理很好描述的原子尺度 Au 器件中，仍存在诸如局部加热和电子-声子相互作用等复杂情况。我们报道了在多个温度下对单个原子尺度金断裂结中散粒噪声的系统性射频测量，其中大多数偏置电压远高于 Au 光学声子模的能量。受先前实验证据表明电子-声子相互作用可改变 Fano 因子并导致散粒噪声偏压依赖中出现扭折特征的启发，我们发现从 4.2~K 到 100~K 散粒噪声的温度依赖性极小。观察到在 0.5$~G_0$ 附近的增强 Fano 因子以及靠近 1$~G_0$ 平台处超出简单线性偏压依赖的散粒噪声特征。两者均被认为具有非相互作用起源，而后者可能源于主导量子通道的轻微偏压相关透射率。