一种在低温下测量电流噪声自相关和互相关的系统
介观与纳米尺度物理
2009-11-11 v2
摘要
我们描述了一个双通道噪声检测系统的构建和操作，用于测量低温下电子器件中约2 MHz电流波动的功率谱密度和互谱密度。该系统采用低温放大和基于快速傅里叶变换的频谱测量。使用Johnson噪声测温法校准增益和电子温度。100 pA的全散粒噪声可以在10秒的积分时间内分辨。我们报告了对栅极定义的GaAs/AlGaAs量子点接触中偏置相关电流噪声的演示测量。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0604018,
title = {A system for measuring auto- and cross-correlation of current noise at low temperatures},
author = {L. DiCarlo and Y. Zhang and D. T. McClure and C. M. Marcus and L. N. Pfeiffer and K. W. West},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0604018},
year = {2009}
}
备注
related papers at http://marcuslab.harvard.edu