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扩散导体中的散粒噪声:电子-声子相互作用效应的定量分析

介观与纳米尺度物理 2009-10-31 v1 强关联电子

摘要

利用“漂移-扩散-朗之万”方程,我们定量分析了电子通过其与声子的相互作用进行能量弛豫(通常在存在电子-电子相互作用的情况下)对扩散导体中散粒噪声的影响。我们发现,噪声功率 SI(ω) S_I(\omega )(在低和高观测频率 ω\omega 下)仅当 β100\beta \gtrsim 100 时才降至其“介观”值的一半,其中 β\beta 是样品长度 LL 与能量弛豫长度 l_{% {\rm ph}} 之比(后者可能远大于退相干长度)。这尤其意味着,在低温下,即使当 L102L\sim 10^{-2} -- 10110^{-1} cm 且导体在任何其他方面都是“宏观”的,散粒噪声也可能是显著的。

关键词

引用

@article{arxiv.cond-mat/9803335,
  title  = {Shot noise in diffusive conductors: A quantitative analysis of electron-phonon interaction effects},
  author = {Y. Naveh and D. V. Averin and K. K. Likharev},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9803335},
  year   = {2009}
}

备注

4 pages, 3 figures