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长导体中的散粒噪声

介观与纳米尺度物理 2007-05-23 v1 强关联电子

摘要

利用“漂移-扩散-Langevin”方程,我们证明至少在一种几何构型下,有限频率散粒噪声的量级为“完全”散粒噪声 2eI2eI,只要样品足够短或足够长,即 L>L0(ω)L > L_0(\omega)。此处 L0(ω)=D/\lphωL_0(\omega) = D'/\lph \omega,其中 DD' 为有效扩散系数,\lph\lph 为能量转移 eVeV 的电子-声子能量弛豫长度,ω\omega 为观测频率。例如,在典型的“零频率”实验中,实际在 10 KHz 下进行,当 LL 大于几厘米时散粒噪声可能很大。在 100 MHz 下,对于任意样品长度散粒噪声都可能很大。文中讨论了这一结果的物理原因——平衡长度与动态屏蔽长度之间的竞争。

关键词

引用

@article{arxiv.cond-mat/9806348,
  title  = {Shot noise in long conductors},
  author = {Y. Naveh},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9806348},
  year   = {2007}
}

备注

3 pages, 2 figures. Fig. 1 is color-coded - hard copies also available from author. Note change in e-mail address