扩散S/N/S结散粒噪声中的介观转变
介观与纳米尺度物理
2009-11-10 v1 超导电性
摘要
我们实验研究了长度介于超导相干长度xi_Delta和正常金属相位相干长度L_Phi之间的扩散超导体/正常金属/超导体结中的电流噪声(xi_Delta < L < L_Phi)。我们在覆盖相干和非相干多次安德烈夫反射两个区域的大能量范围内测量了散粒噪声。这两个区域之间的转变发生在Thouless能量处，在该能量处观察到电流噪声密度的显著最小值。在Thouless能量以上，在非相干多次安德烈夫反射区域，噪声与正常结相比显著增强，并随偏压线性增长。当考虑反映邻近效应的电阻的电压依赖性时，半经典理论准确地描述了实验结果。在Thouless能量以下，散粒噪声随电压降低而发散，这可能表明多个电荷的相干转移。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0409723,
title = {Mesoscopic transition in the shot noise of diffusive S/N/S junctions},
author = {C. Hoffmann and F. Lefloch and M. Sanquer and B. Pannetier},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0409723},
year = {2009}
}
备注
5 pages, 5 figures, accepted for publication in Phys. Rev. B, Rapid Communication