约瑟夫森扫描隧穿显微镜中双倍散粒噪声的成像
超导电性
2019-09-11 v1 强关联电子
摘要
我们利用 Pb-Pb 结的约瑟夫森扫描隧穿显微镜以原子分辨率对电流噪声进行了成像。通过测量电流噪声随外加偏压的变化，我们揭示了当 Andreev 过程占主导时，超导能隙能量之上从单电子隧穿到能隙能量之下双电子电荷转移的变化。我们的空间分辨噪声图显示，这种倍增在表面上均匀发生，也包括杂质位置，表明电荷配对确实不受小于超导相干长度的超导体中扰动的影响。
引用
@article{arxiv.1907.05808,
title = {Imaging doubled shot noise in a Josephson scanning tunneling microscope},
author = {K. M. Bastiaans and D. Cho and D. Chatzopoulos and M. Leeuwenhoek and C. Koks and M. P. Allan},
journal= {arXiv preprint arXiv:1907.05808},
year = {2019}
}
备注
5 pages, 5 figures