分支 locus、临界点集与判别 locus 的纯度

Rolf Källström

分支 locus、临界点集与判别 locus 的纯度

代数几何 2011-06-28 v3 交换代数

作者: Rolf Källström

摘要

对于 Noether 整 S-概形之间的支配态射 $\pi:X/S \to Y/S$ ，有临界点集包含于分支 locus $B_\pi$ 中的关系 $C_\pi \subset B_\pi$ 。我们陈述了相对微分 $\Omega_{X/Y}$ 、 $\Omega_{X/S}$ 与 $\Omega_{Y/S}$ 上的一些条件，它们蕴含 $C_\pi$ 与 $B_\pi$ 的余维数界限。我们还给出了判别 locus 余维数的界限，证明并推广了 I. Dolgachev 的一个猜想。

关键词

支配态射临界点集分支 locus 判别 locus 相对微分余维数界限

引用

@article{arxiv.math/0609300,
  title  = {Purity of branch, critical and discriminant locus},
  author = {Rolf Källström},
  journal= {arXiv preprint arXiv:math/0609300},
  year   = {2011}
}

备注

This paper is withdrawn and will be superseded by new paper. The proofs are incomplete in this version

分支 locus、临界点集与判别 locus 的纯度

摘要

关键词

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