平庸拓扑中的受保护无能隙边缘态

体-边对应是强拓扑绝缘体（包括陈绝缘体与 $Z_2$ 拓扑绝缘体）的重要特征。在非平庸能带拓扑下，受保护的无能隙边缘态对应于体中的 Wannier 障碍或 Wilson 环绕数。近期研究表明，体的拓扑特征未必意味着受保护无能隙边缘态的存在。本文探讨相反的问题：受保护无能隙边缘态的存在是否必然意味着 Wannier 障碍或 Wilson 环绕数？我们给出一个例子，其中受保护无能隙边缘态在上述体拓扑特征缺失的情况下出现。这一平庸化拓扑绝缘体属于一类具有非 delta 函数型 Wannier 函数的新型系统。有趣的是，无能隙边缘态并非由晶体对称性保护；其保护源于镜像反对称性，即手征对称与镜像对称的组合。尽管受保护无能隙边缘态无法由体拓扑特征刻画，但可通过纠缠谱中的谱流来表征。