利用 HAADF STEM 测定 ZnSe 纳米线的极性
材料科学
2012-07-23 v1
摘要
利用高角环形暗场扫描透射电子显微镜（HAADF STEM）分析了通过分子束外延在 GaAs 衬底上生长的 ZnSe 纳米线的极性。将实验结果与模拟图像进行比较，以验证可能的实验伪影。本工作表明，对于此类纳米物体，样品相对于晶体学带轴小于 15 mrad 的残余倾斜不会妨碍对实验图像的解释。
引用
@article{arxiv.1207.5024,
title = {Polarity determination in ZnSe nanowires by HAADF STEM},
author = {Martien Den Hertog and Miryam Elouneg-Jamroz and Edith Bellet-Amalric and Samir Bounouar and Catherine Bougerol and Régis André and Yann Genuist and Jean Philippe Poizat and Kuntheak Kheng and Serge Tatarenko},
journal= {arXiv preprint arXiv:1207.5024},
year = {2012}
}