表面重构硅纳米线的性质研究
介观与纳米尺度物理
2009-11-10 v1 材料科学
摘要
我们利用密度泛函计算方法研究了 <100> 硅纳米线侧向表面重构在决定其电性质中的作用。通过松弛所有具有晶体bulk硅结构且对应平均直径为 1.5 nm 的所有可能理想面 Facet 的纳米线，探索了不同的侧向重构。我们表明，重构导致形成普遍的表面态，使纳米线呈半金属或金属性质。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0412236,
title = {On the properties of surface reconstructed silicon nanowires},
author = {R. Rurali and N. Lorente},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0412236},
year = {2009}
}