单根95纳米纳米线的相干衍射成像
仪器与探测器
2009-05-06 v4 材料科学
摘要
当纳米结构的一个维度处于5-300纳米范围时,其中的光子或电子限域效应变得显著。改进其开发需要能够使用新技术研究其结构——形状、应变场、互扩散图。我们利用相干衍射成像记录了横向尺寸小于100纳米的单根硅纳米线的三维散射强度。我们表明,该强度可用于以28纳米的分辨率恢复纳米线的六边形形状。文章还讨论了该方法在辐射损伤方面的局限性。
引用
@article{arxiv.0809.2222,
title = {Coherent Diffraction Imaging of Single 95nm Nanowires},
author = {V. Favre-Nicolin and J. Eymery and R. K. Koster and P. Gentile},
journal= {arXiv preprint arXiv:0809.2222},
year = {2009}
}
备注
5 pages, 5 figures