利用布拉格相干衍射成像分析单根纳米线中的应变和堆垛层错
材料科学
2010-04-05 v2
摘要
布拉格反射上的相干衍射成像(CDI)是一种有前景的技术,用于研究纳米结构中的三维(3D)组分和应变场,这些信息可以直接从单个物体记录的相干衍射数据中恢复。在本文中,我们报告了直径小于100 nm的均匀和非均匀单根纳米线的结果,我们使用CDI来获取这些纳米线中存在的变形和缺陷信息。本文还讨论了堆垛层错的影响,这些层错可能在纳米线形状和变形的重建过程中产生伪影。
引用
@article{arxiv.0910.5491,
title = {Analysis of strain and stacking faults in single nanowires using Bragg coherent diffraction imaging},
author = {V. Favre-Nicolin and F. Mastropietro and J. Eymery and D. Camacho and Y. M. Niquet and B. M. Borg and M. E. Messing and L. -E. Wernersson and R. E. Algra and E. P. A. M. Bakkers and T. H. Metzger and R Harder and I. K. Robinson},
journal= {arXiv preprint arXiv:0910.5491},
year = {2010}
}
备注
18 pages, 6 figures Submitted to New Journal of Physics